M81型では、DCオフセットにAC振幅を重畳して出力することも、特別な準備など不要で簡単に行うことができます。
右図はM81型の出力信号の設定画面です。「Amplitude」と「Offset」の値をそれぞれ設定することで、DC重畳AC信号を出力することができます。

DCオフセットにAC信号を重畳する測定の代表的なアプリケーションとしては、微分コンダクタンス（微分抵抗）測定があります。
微分コンダクタンス測定では、DCオフセット電圧にAC電圧信号（dV）を重畳して印加し、流れる電流のAC振幅（dI）をロックイン測定することで、I-V波形に対しその微分波形を高感度に得ることができます。（右図）
同様に、印加信号を電圧ではなく電流として、得られるサンプル電圧を測定すると、微分抵抗を得ることができます。M81型は電流印加モジュールを使用することで電流印加も可能であり、電流印加におけるDC＋AC重畳出力も簡単に行えるため、微分抵抗測定も簡単に行うことができます。
微分コンダクタンス/微分抵抗測定により、サンプルのI-V特性が非線形な場合に、その特性をロックインアンプを使用して高感度に得たり、I-V波形のピーク位置を検出したりすることができます。

微分コンダクタンス測定では、AC信号の振幅dVの大きさを小さくすればするほど、より高い分解能でdI/dV波形を得ることができます。しかしながら、一般にDCオフセットが大きくなると、小さな振幅のAC信号を精度よく出力することは困難になります。
M81の電圧印加モジュールVS-10では、AC+DC デュアルレンジ･ソーシング機能により、右図のように DCのレンジとACのレンジを個別に設定することができます。これにより、例えば数VのDCオフセットにサブmVレベルのAC信号を精度よく重畳し出力することができ、高精度・高分解能なdI/dV波形を得ることができます。