- ・8600型VSMを用いた微小モーメント測定
- ・クライオスタットと冷凍機のテクニカルガイド（入門編）
- ・8600型VSMを用いた温度可変微小モーメント測定
- ・温度可変・4探針シート抵抗測定
- ・電気計測－今さら聞けない５つの落とし穴－
- ・太陽電池、光検出デバイスの外部量子効率特性の高感度・高速測定
- ・FIR vs. IIR ロックイン測定高速化のためのフィルタリング
- ・ナノ構造材料の微小信号測定の信頼性を上げる新たなアプローチ
- ・コモンモードノイズ干渉の影響を最小限に抑えるための実用的なガイド
- ・ナノ材料における量子ホール効果測定－M81型 ロックインアンプ搭載ソースメジャーユニットの使用
- ・M81型機能紹介⑤ ダイナミックレンジの大きなロックイン測定
- ・M81型機能紹介④ 1台でDC+ACロックイン測定
- ・M81型機能紹介③ オートレンジでのロックイン測定 その2
- ・M81型機能紹介② オートレンジでのロックイン測定 その1
- ・M81型機能紹介① ロックインアンプとは
- ・極低温プローブステーションにおける微小電流測定で考慮すべき点
- ・フレキシブル（CVT）プローブの効果
- ・VSM/AGMの原理・特長と磁性材料の評価
- ・ACホール測定の原理
- ・半導体の性能を測定する・新開発ホール測定システムレジテスト８４００について
- ・磁石の高性能化に貢献 モーターの省電力化から、コンピュータの大容量化まで、幅広い産業分野の発展に
- ・高効率太陽電池をになう～キャリア濃度と移動度の測定～
動画
多ch同期 ロックインアンプ搭載 ソースメジャーユニット M81型
電流/電圧ソースと 電圧/電流測定を任意に組合せ、DC 及び ロックインアンプ 両方の高感度測定が可能な 最新のソースメジャーユニット(SMU)についてご紹介します。
【1】M81 SSM 同期ソースメジャーシステムのご紹介
（画像クリックで再生）
M81SSM 同期ソースメジャーシステムの概要をかんたんにご紹介しています。
【2】M81およびMeasureLINKソフトを用いたLED測定デモ
（画像クリックで再生）
M81モジュール式ソースメジャーシステム、MeasureLINKソフトウェア、およびM81LEDデモボードについて詳しくご紹介します。
【3】M81 CMR デモ
（画像クリックで再生）
M81モジュール式ソースメジャーシステム、特にバランス電流ソースのCMRコモンモード除去機能について説明します。
【4】M81 SSM特性評価システムのデモンストレーション
（画像クリックで再生）
M81モジュール式ソースメジャーシステムのハンズオンデモをご覧頂けます。
- 磁気測定
- ・磁気測定アプリケーション
- ・磁気測定方法
- ・ガウスメータ
- ・磁気測定全般
- 低温測定
- ・温度センサー
- ・温度コントローラ・モニタ
- ・その他（低温測定）
- ・極低温プローバー
- ・低温測定全般
- ・【森貴洋 博士、更田裕司 博士】（2）大規模集積量子コンピュータの実現に向けた シリコン集積デバイス工学の開拓
- ・【森貴洋 博士、更田裕司 博士】（1）大規模集積量子コンピュータの実現に向けた シリコン集積デバイス工学の開拓
- ・【野崎隆行 博士、山本竜也博士】（3）電圧制御型磁気抵抗効果ランダムアクセスメモリ(VC-MRAM)開発に向けた物性評価技術
- ・【野崎隆行 博士、山本竜也博士】（2）電圧制御型磁気抵抗効果ランダムアクセスメモリ(VC-MRAM)開発に向けた物性評価技術
- ・【野崎隆行 博士、山本竜也博士】（1）電圧制御型磁気抵抗効果ランダムアクセスメモリ(VC-MRAM)開発に向けた物性評価技術
- ・【コラム / 吉岡裕典 博士】SiC（炭化ケイ素）MOSFETチャネル界面の課題と評価法
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- ・AGM・VSMの原理・特長と磁性材料の評価
- ・省電力・再生エネルギー技術への貢献を目指して― 半導体物性測定システム ―
- ・ResiTest8300シリーズ 比抵抗/ホール測定システム（野村 研二 氏）
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