FAQ
低温測定
極低温プローバー全般
ID.
Q. サンプルにプローブをコンタクトさせる手順について教えてください
A.
システムを冷却・昇温する前、真空引きをする前、またはプローブを移動するときは、必ずプローブの先端を持ち上げてください。その後、次の手順に従ってプローブを操作しサンプルにコンタクトさせてください。
1.顕微鏡を観察窓から遠ざけます。
2. Z軸のマイクロメータを使用して、すべてのプローブをサンプルから3～4 mm上に上げます。
（これによりプローブ先端やサンプル表面の損傷を防ぎます。）
3. X軸とY軸のマイクロメータを使用して、プローブ先端を接触面の上に配置します。
4.顕微鏡を観察窓上に戻します。
5.顕微鏡を調整して、接触面に焦点を合わせます。
6. Z軸マイクロメータを使用して、プローブ先端に焦点が合い始めるまで移動します。
（この時点で先端はサンプルから30～60μm離します。）
7.プローブをゆっくりと下げ、先端が接触面の外側の端に接触するようにします。
8.接触したら（スケートと呼ばれる先端の前進が見られたら）、一定の長さ先端が接触面上でスケートするまで下げ続けます。
スケートの一般的な長さは20～25μmで、Z軸マイクロメータのハンドダイヤルの2目盛り分とほぼ同じです。