脱炭素／ エネルギー

フラックスメータ480型用サーチコイル/センシングコイル(磁界測定プローブ)です。多くの計測で用いることができる 100cm^2タイプと、コイル径が小さく狭いギャップや磁界勾配が大きい場合に用いる 30cm^2タイプを用意しています。

フラックスメータ用ヘルムホルツコイル FHシリーズ

フラックスメータ480型計測用ヘルムホルツコイルです。校正確度:0.75%で、3種類の内径:64mm,152mm,305mm、測定レンジ(概算値):39μWb･cmから14mWb･cmまで対応します。

Lake Shore社製　標準磁石/ヘルムホルツコイル

Lake Shore社では、磁場の大きさを規定した標準磁石やヘルムホルツコイルを提供しています。
標準磁石はアキシャルタイプ、トランスバースタイプがあり、テスラメータのプローブの性能確認などに利用できます。
ヘルムホルツコイルは一様な磁場を作り出せることから、地磁気などの磁場の影響を打ち消すためなどに用いられます。

Lake Shore社製　延長ケーブル

Lake Shore社製ガウスメータプローブの延長ケーブルです。
最大約30mの延長が可能です。

SECM-470　走査型電気化学顕微鏡

Scribner Associates（スクリブナーアソシエイツ / USA）

SECM（走査型電気化学顕微鏡）は、高精度な走査型マイクロ電極システムです。溶液中においてサンプル表面の酸化もしくは還元電流の分布をマイクロ電極によって極めて高い位置分解能で計測します。溶液中のサンプルを表面化学的に試験、分析あるいは変化させることができます。腐食防食化学から酵素安定性の研究まで、さまざまな分野において表面反応の基礎研究に利用できます。

857型　レドックスフロー電池評価システム

米国スクリブナー社製 857 型レドックス・フロー電池評価システムは、レドックス溶液の循環制御と連動した充放電やインピーダンスによる内部抵抗測定が可能な評価システムです。

LEIS 局所電気化学インピーダンス測定システム

Andeen-Hagerling,Inc.（アンディーン / USA）

LEIS（局所電気化学インピーダンス法）は、サンプル表面の局所インピーダンス測定を行うシステムです。作用極のサンプルに、微小なサイン波の電圧を印加し、プローブ近傍に流れる電流の電位勾配を測定し、インピーダンス値を算出します。

高精度標準キャパシタ（標準コンデンサ）1100型/11A型

NISTトレーサブル、高安定0.3ppm/年
超高精度、高安定ヒューズドシリカ標準キャパシタ

SVET 走査型振動電極システム

SVET（走査型振動電極法）は、電気化学反応により生じる溶液中の電位勾配を電極を振動させることで測定し、サンプル表面の電流分布を導出します。アノード/カソード反応で測定される位相が異なるため、局部電池の様な同一面上での酸化･還元反応も測定できます。

ZViewは、インピーダンス測定の等価回路解析を行うためのソフトウェアです。ノースカロライナ大学 Prof. J.Ross Macdnaldにより開発されたCNLS（Complex Nonlinear Least Squares：複素非線形最小二乗法）による、高度な等価回路フィッティングを行うことができます。また、CPE（Constant Phase Element）やワールブルグインピーダンスといった、電気化学に特有の非線形パラメータも解析することができます。

SDC 走査型液滴システム

SDC（走査型液滴システム）は、局所セルを作成し微小領域での電気化学測定を行います。溶液をフローできるので、反応性の高いサンプルでも溶液濃度を一定に保つことが可能です。また、局所セルを作製することで局所電気化学反応を測定できます。

Z-ASSIST　インピーダンス解析支援ソフトウェア　

Z-ASSISTは、緩和時間分布（DRT）を利用したインピーダンス解析支援ソフトウェアです。インピーダンス測定結果の解析を行うために必要な等価回路モデルを自動生成するために、DRT法を適用し、等価回路解析時に必要な初期パラメータの最適値を導出できます。これにより、解析者の経験や知見への依存度が低減され、解析時間やミスを大幅に低減できます。解析結果はZViewへ出力することができます。

Z-FIT-Analysis 　ZViewフィッティング制御ソフトウェア

Z-FIT-Analysisは、インピーダンスデータの一括フィッティングを行うためのソフトウェアです。ZViewを自動制御することにより、大量のインピーダンスデータを短時間で等価回路解析することができます。Z-3D（3Dインピーダンス解析ソフトウェア）の出力データとも連動し、インピーダンス解析の作業を効率化します。

CONT-TEMP2　恒温槽制御ソフトウェア

CONT-TEMP2は、電気化学測定や充放電試験と連動して恒温槽温度を自動制御することができる制御ソフトウェアです。複数台の恒温槽制御もできるため、マルチチャンネルの電気化学測定装置との組み合わせによる複数サンプルの自動測定も簡便に行うことができます。EC-Lab Ⓡなどの計測ソフトからの温度制御コマンドを実行して、機器の温度を制御することができます。また、コマンドプロンプトなどから直接TTTrigger.exe を呼び出すことで直接機器の温度を制御することもできます。さらに、Espec 社恒温槽、LakeShore 335/336 ではスタンドアロンモードを用いて本ソフトウェア上で温度制御を行うことも可能です。

Xe プラズマ FIB-SEMシステム　AMBER X 2

新製品

TESCAN社の最新鋭AMBER X 2は、従来のGa FIB-SEMシステムでは困難だった材料解析のために製品化されたプラズマFIBと超高分解能FE-SEMが一体となった分析システムです。
パワー半導体やリチウムイオン電池、ソフトマテリアル、磁気材料など多種多様な素材に対して、大面積の加工を高速で行うことが可能になることに加えて、ToF-SIMS、ラマンといったマルチモーダルイメージングをフィールドフリーかつ高い空間分解能で実現しました。

Xe プラズマ FIB-SEMシステム　SOLARIS X 2

新製品

TESCAN社の最新鋭SOLARIS X 2は、従来のGa FIB-SEMシステムでは困難だった材料解析のために製品化されたプラズマFIBと、イマージョン光学系を装備した超高分解能FE-SEMが一体となった分析システムです。
TSV（シリコン貫通電極）、MEMS、はんだバンプ、Cu ピラー、BGA の全体構造といった広いスケールの構造をもつ材料や深く埋もれた構造をもつ材料に対して、大面積の加工を高速で行うことが可能になることに加えて、クラス最高の低加速SEM観察能力により高い精度での物理解析が実現します。また、ToF-SIMS、ラマンといった分析技術とのマルチモーダルイメージングが可能です。

Ga FIB-SEMシステム　AMBER

新製品

TESCAN社の最新鋭AMBERは、高い加工位置精度を有するGa FIBとフィールドフリー超高分解能FE-SEMが一体となった分析システムです。
電池材料、磁性材料、ソフトマテリアルなど多種多様な素材に対して、微細加工、微小試料作製、3Dイメージングを高い分解能で実現します。また、ToF-SIMS、ラマンといった分析技術とのマルチモーダルイメージングが可能です。

Ga FIB-SEMシステム　SOLARIS

新製品

TESCAN社の最新鋭SOLARISは、高い加工位置精度を有するGa FIBとイマージョン光学系を装備した超高分解能FE-SEMが一体となった分析システムです。
多種多様な素材に対して、微細加工、微小試料作製、3Dイメージングを高い分解能で実現できるだけでなく、正確な終点検出を必要とするデバイス故障解析に最適です。また、ToF-SIMS、ラマンといった分析技術とのマルチモーダルイメージングが可能です。

走査透過電子顕微鏡　TENSOR