オンラインセミナー

　「次世代パワー半導体GaN, α-Ga2O3の最新評価ソリューション」オンライン技術セミナー

開催日時

2021年6月30日（水）

●ツール

    オンラインにて開催いたします

本セミナーでは半導体計測における最新の評価ソリューションを2部構成で紹介いたします。

第1部ではホール測定による電気特性評価、 第2部ではFIB-SEMによる物理解析について講演いたします。

日時 開催内容 費用 空席 定員 申し込み
2021年6月30日（水）
13:30～14:40		 次世代パワー半導体GaN, α-Ga2O3の最新評価ソリューション 無料 100 受付終了
日時 2021年6月30日（水） 13:30～14:40
開催内容 次世代パワー半導体GaN, α-Ga2O3の最新評価ソリューション
費用 無料
空席 定員 100
申し込み 受付終了

禁止事項・注意事項

  • セミナー画面・内容のスクリーンショットやカメラ撮影、録画・録音、また、SNS、HPなどへの投稿は何卒ご遠慮願います。
  • セミナー進行の都合上、受講者の方からの口頭での質問が行えない設定にしております。
  • 受講者の方のZoom設定、ネットワーク環境などの設定サポートは弊社では対応いたしかねます。あらかじめご了承願います。
  • Zoomはアプリ版での視聴を推奨しています。ブラウザ版では一部機能が制限される場合がございます。
    （あらかじめZoomアプリをパソコンにインストールしていただき、音声テスト、音量調整等を行っていただくことを推奨いたします）
    アプリは最新版にアップデートしてご視聴いただけますようお願いいたします。

開催日時

2021年6月30日（水）13:30～14:40

開催方式

オンライン（Zoom Web会議を利用いたします）
開催当日午前10時までに視聴用URLをご案内いたします。

アジェンダ

第１部：DC/ACホール効果測定等の最新の半導体電気特性評価法　

■講演内容
➢ 抵抗・ホール測定の測定ノウハウ・注意点
➢ AC(交流)ホール効果法による高感度測定
➢ FastHall法による高速測定

第２部：Xe Plasma FIB-SEMによる物理解析

■講演内容
➢ Ga FIB-SEMとの違い
➢ Xe Plasma FIBの特長を活かした大容量加工
➢ 低ダメージ・低汚染加工の実例紹介

お問い合わせ先

株式会社東陽テクニカ　理化学計測部
営業担当：朝倉
TEL：03-3245-1103
Mail：material-dm[at]toyo.co.jp