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TESCAN社製品

TESCAN社製　FIB-SEM / SEM / STEMに関するカタログ

走査透過電子顕微鏡　TENSOR

走査透過電子顕微鏡　TENSOR

Xeプラズマ FIB-SEM　SOLARIS X

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Xeプラズマ FIB-SEM　AMBER X

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Ga FIB-SEM　SOLARIS

Ga FIB-SEM　SOLARIS

Ga FIB-SEM　AMBER

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電界放出形走査電子顕微鏡　MAGNA

電界放出形走査電子顕微鏡　MAGNA

FIB-SEM搭載用
ToF-SIMS

FIB-SEM搭載用<br>ToF-SIMS

SEM-ラマン複合装置 RISE

SEM-ラマン複合装置 RISE

In-SEM AFMシステム　LiteScope

In-SEM AFMシステム　LiteScope

FIB-SEMトモグラフィー

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大容量の断面・試料作成ワークフロー

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電子ビーム
リソグラフィー

電子ビーム<br>リソグラフィー

自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】

自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】

-地球惑星科学研究向け-

自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】

自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】

-選鉱の鉱物試験用途-

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