ニュース一覧
- 2024.09.03 お知らせ 新型 Xe プラズマ FIB-SEM「AMBER X 2」販売開始
- 2024.08.30 お知らせ TESCAN社新製品「SOLARIS X 2」「AMBER X 2」「AMBER 2」 新カタログ公開のお知らせ
- 2024.01.10 展示会 ASTEC2024 (第19回先端表面技術展・会議)に出展します。
- 2023.11.21 セミナー 【12月12日】電池材料向け機械特性評価セミナー ~ナノインデンターおよび関連製品の事例紹介~
- 2023.11.10 セミナー 【12月7日】TESCANセミナー2023を開催します。
- 2023.07.31 製品情報 TESCAN社走査透過電子顕微鏡「TENSOR」のカタログをアップしました。
- 2022.12.26 製品情報 超薄膜ヤング率測定システムLAWaveのアプリケーション事例紹介資料をアップしました。
- 2022.10.28 展示会 2022.10.27 【神奈川県横浜市】2022年11月10日(木)~12日(土)2022 日本ダイカスト会議・展示会に出展いたします。
- 2022.09.27 お知らせ 小惑星探査機「はやぶさ 2」初期分析 石の物質分析チームの研究成果に貢献 『リュウグウ』サンプル中の重要な科学情報を含む微粒子の 断面作製を Xe プラズマ FIB-SEM にて実施
- 2022.09.05 セミナー 【9月13日】ナノインデンターオンラインセミナー~ガラス・セラミクス材料評価事例~
- 2022.08.18 セミナー TESCAN X線CTオンラインセミナーを開催します。(8月29日、9月5日)
- 2022.08.10 セミナー TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー2022を開催します。(8月22日)
- 2022.07.29 展示会 第11回総合検査機器展 (JIMA2022)に出展します。(9月14日~16日)
- 2022.07.08 技術情報 TESCAN社より、元素識別CT機能【SPECTRAL CT】リリース
- 2022.07.07 展示会 JASIS2022に出展します。(9月7日~9日)
- 2022.06.02 製品情報 KLA社 【ナノインデンター総合】のカタログが新しくなりました。
- 2022.05.17 展示会 トライボロジー会議2022春 東京にてオンライン展示します!
- 2022.05.17 製品情報 TESCAN社 Ga FIB-SEMシステム【AMBER】のカタログを更新しました。
- 2022.04.25 セミナー 【5月20日】ナノインデンターオンラインセミナー~微小領域における機械特性評価事例~を再配信します。
- 2022.04.22 セミナー 【開催中】硬度・機械特性評価技術オンラインセミナー2022
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