ニュース一覧
- 2022.04.19 展示会 日本顕微鏡学会第78回学術講演会 併設展示会に出展します。
- 2022.03.08 技術情報 【事例紹介】～ナノインデンターによる生体材料やゲルの評価事例～をアップしました。
- 2022.03.03 セミナー KLA社主催 ディスプレイ材料評価技術シンポジウム(アジア向け) のご案内
- 2022.02.28 製品情報 ナノインデンター用加熱・冷却ステージオプション「VTS」を販売開始！
- 2022.02.01 お知らせ TESCAN社プラズマFIB-SEMが「はやぶさ２」初期分析プロジェクトに貢献！
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2022.02.01
セミナー
北海道立工業技術センターにて、弊社エンジニアが講演を行います。
「電界放射型走査電子顕微鏡の基礎と応用事例 ～導入機器紹介と実演～」(2022年2月18日) - 2022.01.31 技術情報 【事例紹介】～ナノインデンテーションによるPVDコーティングの高温機械特性評価～をアップしました。
- 2022.01.05 セミナー 【招待講演あり】ナノインデンターオンラインセミナー ～微小領域における機械特性評価～
- 2021.12.01 展示会 ASTEC2022 (第17回先端表面技術展・会議)に出展します
- 2021.11.11 セミナー ナノインデンター オンラインセミナー再配信決定！初回は12月17日(金)
- 2021.10.21 展示会 JASIS2021に出展します。(11月8日～10日)
- 2021.10.07 製品情報 TESCAN電子顕微鏡 MAGNA、CLARAのカタログをアップしました。
- 2021.08.27 製品情報 NenoVision社 In-SEM AFM LiteScope 2.0のカタログをアップしました。
- 2021.08.20 製品情報 TESCAN社より、X線マイクロCTシステム【UniTOM HR】リリース
- 2021.08.16 製品情報 Fraunhofer研究所製 超薄膜ヤング率測定システム LAwaveのカタログをアップしました。
- 2021.07.08 サポート ナノインデンタートレーニング動画（ユーザー向け）配布開始
- 2021.07.02 展示会 実用顕微評価技術セミナー2021に出展します
- 2021.06.28 展示会 2021 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC 2021)に出展します。
- 2021.06.18 製品情報 NenoVision 社のIn-SEM AFM LiteScope の取り扱いを開始しました。
- 2021.06.16 セミナー 6月30日「次世代パワー半導体GaN, α-Ga2O3の最新評価ソリューション」オンラインセミナーを開催します。
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