東陽テクニカ
ナノイメージング
ニュース

ニュース一覧

2021.06.15 お知らせ NANOSENSORS製品　取り扱い終了のお知らせ
2021.06.11 製品情報「FIB-SEMに搭載可能な ToF-SIMS」のカタログをアップしました。
2021.06.09 展示会日本顕微鏡学会　第77回学術講演会に出展します。
2021.05.28 お知らせ小惑星探査機「はやぶさ 2」が持ち帰った小惑星「リュウグウ」の試料初期分析プロジェクトに協力
2021.05.25 セミナーナノインデンター　オンラインセミナー開催中！
2021.05.21 製品情報 TESCAN電子顕微鏡　MIRA、VEGAのカタログをアップしました。
2021.05.12 セミナー「TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー2021」開催　6月29日＆7月13日
2021.04.27 お知らせ～高性能なAFMを低価格で提供～AFMWorkshop社製HR-AFMを販売開始
2021.04.21 セミナーナノインデンター　オンラインセミナー開催！　初回は4月23日
2021.03.18 製品情報 X線マイクロCTシステム　DynaTOM、UniTOM XLのカタログをアップしました。
2021.03.04 製品情報 X線マイクロCTシステム　CoreTOMのカタログをアップしました。
2021.03.02 製品情報 FIB-SEMトモグラフィー、電子ビームリソグラフィーのカタログをアップしました。
2021.02.02 製品情報自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】のカタログをアップしました。
2020.12.28 技術情報ナノインデンテーションを用いた放射線損傷の評価事例
2020.12.22 セミナー半導体材料向けナノインデンターオンラインセミナーを開催します(2021年1月29日)
2020.12.07 セミナー弊社社員が、物質・材料研究機構微細構造解析プラットフォーム地域セミナーで、XeプラズマFIB-SEMに関する講演を行います。（2021年1月8日）
2020.12.01 お知らせ 2020年度末AFMプローブキャンペーン実施中　～2021年3月31日(水)まで
2020.11.27 製品情報 TESCAN社より、自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】リリースしました。
2020.11.19 セミナーナノインデンター　オンラインセミナー開催　(12月9日、10日)
2020.11.03 展示会 JASIS2020に出展します。 (11月11日～13日)

124件中 41-60件目

先頭
前へ
1
2
3
4
5
次へ
最後