東陽テクニカ
ナノイメージング
ニュース一覧(2020)

2020年度のニュース一覧

2020.12.28 技術情報ナノインデンテーションを用いた放射線損傷の評価事例
2020.12.22 セミナー半導体材料向けナノインデンターオンラインセミナーを開催します(2021年1月29日)
2020.12.07 セミナー弊社社員が、物質・材料研究機構微細構造解析プラットフォーム地域セミナーで、XeプラズマFIB-SEMに関する講演を行います。（2021年1月8日）
2020.12.01 お知らせ 2020年度末AFMプローブキャンペーン実施中　～2021年3月31日(水)まで
2020.11.27 製品情報 TESCAN社より、自動鉱物粒子解析SEM 【TIMA】リリースしました。
2020.11.19 セミナーナノインデンター　オンラインセミナー開催　(12月9日、10日)
2020.11.03 展示会 JASIS2020に出展します。 (11月11日～13日)
2020.10.28 製品情報 TESCAN　Ga FIB-SEM「SOLARIS」のカタログをアップロードしました。
2020.10.08 展示会 ASTEC2021 (第16回先端表面技術展・会議)に出展します
2020.09.23 お知らせ慶應義塾大学でのナノインデンターデモ測定再開につきまして
2020.07.15 お知らせナノインデンターオンラインセミナーの録画を配信中
2020.06.12 セミナー TESCAN FIB-SEMセミナー開催！　第2回は6月26日(金)
2020.05.08 セミナーナノインデンターオンラインセミナーを隔週で開催中！　5月18日～7月27日
2020.04.27 お知らせ 2020年度キャンペーン第1弾　AFMプローブ新年度応援キャンペーンのお知らせ
2020.04.24 製品情報 TESCAN社より最新XeプラズマFIB搭載のSOLARIS X型リリース
2020.04.10 セミナーナノインデンター　オンラインセミナー開催！　初回は4月27日
2020.03.02 お知らせ【3月末納品可能】　AFMプローブ即納製品のご案内
2020.02.03 展示会【ご来場のお礼】　ASTEC2020 (第15回先端表面技術展・会議)
2020.01.09 技術情報「ナノインデンテーションを用いたLow-k薄膜のヤング率と硬度の測定」の事例紹介をアップしました