東陽テクニカ
ナノイメージング
ニュース一覧(2021)

2021年度のニュース一覧

2021.12.01 展示会 ASTEC2022 (第17回先端表面技術展・会議)に出展します
2021.11.11 セミナーナノインデンター　オンラインセミナー再配信決定！初回は12月17日(金)
2021.10.21 展示会 JASIS2021に出展します。(11月8日～10日)
2021.10.07 製品情報 TESCAN電子顕微鏡　MAGNA、CLARAのカタログをアップしました。
2021.08.27 製品情報 NenoVision社 In-SEM AFM LiteScope 2.0のカタログをアップしました。
2021.08.20 製品情報 TESCAN社より、X線マイクロCTシステム【UniTOM HR】リリース
2021.08.16 製品情報 Fraunhofer研究所製超薄膜ヤング率測定システム LAwaveのカタログをアップしました。
2021.07.08 サポートナノインデンタートレーニング動画（ユーザー向け）配布開始
2021.07.02 展示会実用顕微評価技術セミナー2021に出展します
2021.06.28 展示会 2021 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC 2021)に出展します。
2021.06.18 製品情報 NenoVision 社のIn-SEM AFM LiteScope の取り扱いを開始しました。
2021.06.16 セミナー 6月30日「次世代パワー半導体GaN, α-Ga2O3の最新評価ソリューション」オンラインセミナーを開催します。
2021.06.15 お知らせ NANOSENSORS製品　取り扱い終了のお知らせ
2021.06.11 製品情報「FIB-SEMに搭載可能な ToF-SIMS」のカタログをアップしました。
2021.06.09 展示会日本顕微鏡学会　第77回学術講演会に出展します。
2021.05.28 お知らせ小惑星探査機「はやぶさ 2」が持ち帰った小惑星「リュウグウ」の試料初期分析プロジェクトに協力
2021.05.25 セミナーナノインデンター　オンラインセミナー開催中！
2021.05.21 製品情報 TESCAN電子顕微鏡　MIRA、VEGAのカタログをアップしました。
2021.05.12 セミナー「TESCAN FIB-SEMオンラインセミナー2021」開催　6月29日＆7月13日
2021.04.27 お知らせ～高性能なAFMを低価格で提供～AFMWorkshop社製HR-AFMを販売開始

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