東陽テクニカ
ナノイメージング
ニュース一覧(2022)

2022年度のニュース一覧

2022.12.26 製品情報超薄膜ヤング率測定システムLAWaveのアプリケーション事例紹介資料をアップしました。
2022.10.28 展示会 2022.10.27 【神奈川県横浜市】2022年11月10日(木)～12日(土)2022 日本ダイカスト会議・展示会に出展いたします。
2022.09.27 お知らせ小惑星探査機「はやぶさ 2」初期分析　石の物質分析チームの研究成果に貢献　『リュウグウ』サンプル中の重要な科学情報を含む微粒子の断面作製を Xe プラズマ FIB-SEM にて実施
2022.09.05 セミナー【9月13日】ナノインデンターオンラインセミナー～ガラス・セラミクス材料評価事例～
2022.08.18 セミナー TESCAN　X線CTオンラインセミナーを開催します。(8月29日、9月5日)
2022.08.10 セミナー TESCAN　FIB-SEMオンラインセミナー2022を開催します。(8月22日)
2022.07.29 展示会第11回総合検査機器展 (JIMA2022)に出展します。(9月14日～16日)
2022.07.08 技術情報 TESCAN社より、元素識別CT機能【SPECTRAL CT】リリース
2022.07.07 展示会 JASIS2022に出展します。(9月7日～9日)
2022.06.02 製品情報 KLA社【ナノインデンター総合】のカタログが新しくなりました。
2022.05.17 展示会トライボロジー会議2022春　東京にてオンライン展示します！
2022.05.17 製品情報 TESCAN社 Ga FIB-SEMシステム【AMBER】のカタログを更新しました。
2022.04.25 セミナー【5月20日】ナノインデンターオンラインセミナー～微小領域における機械特性評価事例～を再配信します。
2022.04.22 セミナー【開催中】硬度・機械特性評価技術オンラインセミナー2022
2022.04.19 展示会日本顕微鏡学会第78回学術講演会　併設展示会に出展します。
2022.03.08 技術情報【事例紹介】～ナノインデンターによる生体材料やゲルの評価事例～をアップしました。
2022.03.03 セミナー KLA社主催ディスプレイ材料評価技術シンポジウム(アジア向け) のご案内
2022.02.28 製品情報ナノインデンター用加熱・冷却ステージオプション「VTS」を販売開始！
2022.02.01 お知らせ TESCAN社プラズマFIB-SEMが「はやぶさ２」初期分析プロジェクトに貢献！
2022.02.01 セミナー北海道立工業技術センターにて、弊社エンジニアが講演を行います。
「電界放射型走査電子顕微鏡の基礎と応用事例～導入機器紹介と実演～」(2022年2月18日)

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