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TESCAN社 電子顕微鏡・集束イオンビーム装置 (FIB-SEM/SEM)

TESCAN社 X線マイクロCTシステム

電子顕微鏡組込み型 表面物性計測装置

ナノインデンター・薄膜機械特性

原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡(AFM/SPM)