TESCAN社の新型UniTOM HRは、サブミクロンの空間分解能と秒レベルの時間分解能の双方を、世界で初めて実装した ダイナミックX線CTシステムです。
従来からのTESCAN社の特長である、途絶えることなく時間変化を追跡できる4Dイメージング機能に加え、新開発のナノフォーカス X 線源と精密ステージ、検出器の融合により、最高空間分解能600nmを達成しました。
多用途性にも優れており、さまざまな分野の材料研究・故障解析・品質管理に用いることができます

TESCAN社の最新鋭UniTOM XLは、情報欠落のない真の4Dイメージングが可能なダイナミックX線CTシステムです。秒レベルの高い時間分解能と、連続スキャン機構、専用4Dソフトウエアにより、すべての生データを取得することができ、最も重要な瞬間を逃すことがありません。
また、広域で取得したあと、内部の任意の箇所にズーム可能なVolume-of-Interest Scanning (VOIS)機能も装備しており、さまざまな試料・アプリケーションに柔軟に対応できる高速・マルチスケールシステムです。

SPECTRAL CTは、材料に含まれる元素を識別し、その空間分布を明らかにすることができる新しい検出技術です。通常のCTスキャンで得られた内部構造情報と組み合わせて評価を行うことができます。鉱業やリサイクルの工程におけるレアメタルの特定はもちろん、従来のマイクロCTではコントラストづけが困難な工業材料中の異なるポリマーの分離識別、生物試料のコントラスト最適化といった応用が期待されます。
SPECTRAL CTは、TESCAN社製マイクロCTシステム UniTOM XL・CoreTOMに搭載可能です。

G200Xハイエンド薄膜機械的特性評価装置は、高分解能測定から最大10N(約1kgf)の荷重試験が可能な、マイクロインデンターとナノインデンターの間の領域をカバーする、ワイドレンジのナノインデンターです。
　G200Xでは薄膜や微小領域の硬さ・ヤング率測定の他にも高速マッピング試験やスクラッチ試験など幅広い試験を行えます。
InForce1000・InForce50・XPの3種類のヘッドを使い分けることでサンプルに応じた多様な押し込み荷重で試験を行うことができる薄膜・微小領域評価の総合プラットフォームです。