TESCANセミナー2023
- 東京
- 2023年12月7日(木)
開催時間
13:00~17:00
- ●場所
-
株式会社東陽テクニカ 本社
TESCAN社は各ピクセルでの電子線回折図形を高速で記録可能な4D-STEM機能に特化した走査透過電子顕微鏡の新製品「TESCAN TENSOR」 をリリースしました。
今回のセミナーではSTEM像、EDSマップと回折パータンを同時取得し、相・方位マップをほぼリアルタイムで表示することが可能な革新的なシステムの詳細について紹介します。
さらに、秒レベルの時間分解能で情報欠落のない真の4Dイメージングがラボレベルで実現したダイナミックX線CTシステムのほか、
さまざまなスケール・手法でアプローチが可能な電池材料解析のFIB/SEMソリューション、ユニークなTEM試料作製ワークフローについても説明します。
また、今回は、東芝ナノアナリシス株式会社の渡辺圭様をお招きし、TESCAN社製プラズマFIB-SEMの活用事例をご紹介いただきます。
セミナー内容
- TENSOR - The world-first near-UHV, Precession-Assisted, Analytical 4D-STEM
- Micro-CT - multi-scale and dynamic 3D imaging for material science and energy materials research
- FIB/SEM solution for Li batteries and new energy materials research
- GaフリーFIBの微細加工の検討~TESCAN社製プラズマFIB-SEMの活用事例~(東芝ナノアナリシス株式会社 渡辺 圭 様)
- TESCAN独自の姿勢制御技術により高度なTEM試料作製がワンステップで実現
※プログラムは一部変更になる場合がございます。
開催地 | 日時 | 開催内容 | 費用 | 空席 | 定員 | 申し込み |
---|---|---|---|---|---|---|
東京 | 2023年12月7日(木) 13:00-17:00 |
TESCANセミナー2023 | 無料 | 80 | 受付終了 |
開催地 | 東京 | ||
---|---|---|---|
日時 | 2023年12月7日(木) 13:00-17:00 | ||
開催内容 | TESCANセミナー2023 | ||
費用 | 無料 | ||
空席 | 定員 | 80 | |
申し込み | 受付終了 |
セミナー要旨
- TENSOR - The world-first near-UHV, Precession-Assisted, Analytical 4D-STEM
「世界で初めてプリセッション機構を標準実装した超高真空・アナリティカル4D-STEMシステム」
TENSORは、機能材料・薄膜・粒子といった材料の形態や化学組成、結晶構造といった特性をナノスケールかつマルチモーダルで評価できる、完全統合型アナリティカル4D-STEMシステムです。ゼロから新しく設計したことにより、非常に高いレベルの自動化機能が実装され、最短時間で最適な結果を得ることが可能です。リアルタイムに近い形で4D-STEMデータの取得・解析が可能であるだけでなく、オープンAPIを備えたPythonスクリプトによって、高度な4D-STEM実験や新しい手法・ワークフローの開発も容易にします。
- Micro-CT - multi-scale and dynamic 3D imaging for material science and energy materials research
「TESCAN X線マイクロCT – 高速ダイナミック観察ならびにマルチスケールで撮影可能X線CTシステムの紹介とその材料科学やエネルギー材料研究への応用例」
X線マイクロCTは、材料研究における非破壊3D評価の一般的な手法として確立されています。材料内部の空隙率と密度の分布の計測や、故障箇所の特定、構成物質の配向・体積分率といったパラメータを評価することができるユニークな技術であるからです。X線マイクロCTは非破壊で計測できるため、内部構造の時間的変遷を追跡するその場観察実験・4D計測にも適しています。複雑なその場観察実験にも適応することに成功したTESCAN独自の高速撮像能力について、いくつかのアプリケーション例を交えて紹介いたします。また、最近、従来技術では不可能だった材料内部の化学情報を3次元的に明らかにすることのできるSPECTRAL CT機能を開発しました。通常のCT観察で取得した内部構造・ミクロ組織とSPECTRAL CTで得られた化学情報を組み合わせて評価することが可能です。
- FIB/SEM solution for Li batteries and new energy materials research
「リチウムイオン電池・エネルギー材料向けに開発したFIB/SEM解析ソリューション」
リチウムイオン電池・エネルギー材料の研究開発は、世界的にその競争が加速しています。TESCANは、高度な材料解析技術を新しい電池技術の開発に完全適用すべく、独自のワークフローを開発しています。ユニークなワークフローにより、活物質をはじめとする電池の構成物質について、さまざまな寸法スケールで多角的に解析することができます。
- TESCAN独自の姿勢制御技術により高度なTEM試料作製がワンステップで実現
TESCAN独自のソリューションにより、標準的なトップダウンのワークフローでは難しい、姿勢制御が必要なTEM試料作製が可能です。回転機構付きのナノマニピュレータをFIB カラム下に位置させるTESCAN の特許技術により、ユーザーは容易かつ直感的にTEM試料の姿勢制御をおこなうことができます。これらの制御は、真空排気やサブステージ追加などの作業を複雑化する必要がないため、通常のルーチン作業として実行することができます。
日時・場所
2023年12月7日(木):東陽テクニカ 本社 7階セミナー室
13:00~17:30 (受付開始 12:30~)
お問い合わせ先
株式会社東陽テクニカ 理化学計測部 担当:鈴木
電話:03-3245-1103、FAX:03-3246-0645
Email:bunseki@toyo.co.jp