液晶物性評価システム「LCE-X」は、液晶物性評価システム「6254型」及びTFT-LCD評価システム「LCM-3A型」の後継機種となります。電圧保持率、残留DC電圧及びイオン密度の測定を1台で行なえるシステムです。
同時測定の場合、最大8チャンネルまで拡張できますので、複数のサンプルを短時間に測定することが出来ます。一方、順次測定の場合、最大48チャンネルまで拡張できますので、大量のサンプルを測定する場合に効果的です。また、直流電圧印加モジュールを追加することで、実パネルでも電圧保持率やイオン密度の測定が可能になります。LCD材料の開発・品質管理、及び、LCDパネルの製造ライン立ち上げ・工程管理・不良解析の実現・歩留まり向上に寄与します。

6790シリーズは、従来にはない高電圧を印加しながらインピーダンス測定を行うための保護回路を含んだインターフェースです。DC電圧±2kV、AC電圧±400Vを測定対象物に印加し、周波数特性1mHz～100kHzのワイドレンジでのインピーダンス測定を実現します。システム構成はインピーダンスアナライザ、高電圧DC/AC電源、高電圧インターフェースの3点を組み合わせ、各種サンプルホルダにも対応できます。

6254型は、電圧保持率、残留DC電圧及びセルイオン密度測定を1台で行うことのできるシステムです。

TFT-LCD評価システム ｢LCM-3A型｣は、液晶材料や仮想現実(VR)、拡張現実(AR)などに使用されるLCOS(Liquid crystal on silicon)のほか、LCD実パネルを直接測定できる液晶物性評価システムです。

SR-6517型は、高感度エレクトロメータ／ソース、液晶を注入する液体電極、液体電極をノイ ズから守るシールドボックスから構成されており、比抵抗の高い液晶材料の測定を可能にしております。

EC-1型はフレデリクス転移を用いた測定手法でK11（スプレイ）、K33（ベンド）の測定を行います。また、誘電率異方性（Δε）の測定もEC-1型で行えます。

本装置では磁場装置を必要とせず､ 液晶セルでの回転粘性率（γ１）の算出に必要なデータ (ダイレクタ・スイッチングピークや不純物イオンピークの電流値・時間) を測定することができます｡ なお、追加機能として、電圧保持率、イオン密度及び残留DC測定も可能です。