CCS-300型は、クローズドサイクル冷凍機によりLHe液体ヘリウムを使用しない、真空中でサンプルを冷却するボトムローディング式クライオスタットです。真空シェラウのサンプルホルダ部分が細型スリムな設計で 電磁石による磁場印加などに適した形状です。多様なサンプルホルダ、電気配線フィードスルー 及び 光学窓材オプションを備えており、様々な用途に合わせて極低温下で計測を行うことが可能です。

主な特長

• 細型コンパクト：狭いギャップに対応、電磁石 磁場印加などに
• 4K typ. ～325K（モデル、冷凍機選択による）
• 液体寒剤フリー、LHe液体ヘリウム不要でランニングコストを低減
• 真空中でサンプル測定、伝導により冷却
• 最低温度、冷却性能に合わせて冷凍機(コールドヘッド)を選択可能
• PID温度制御用 Lake Shore社校正済み温度センサーと ヒーターを内蔵
• 測定に合わせて サンプルホルダ、電気配線フィードスルー 及び 光学窓材を選択可能
  user自作サンプルホルダの取付も可

CCS-300S/ST型　細型スリム クライオスタット（真空･熱伝導冷却）

PID温度コントローラ・校正付温度センサー＆ヒーター

　クライオスタット内には、PID温度制御用の校正付温度センサー：シリコンダイオードDT670* と ヒーターが内蔵されており、Lake Shore社 335型 温度コントローラにより 安定した温度制御を行えます。（*高温モデルは熱電対）
温度センサーは 用途によりCernoxセンサー(磁場印加など)に変更も可能です。
温度制御用 温度センサーとは別に、追加でサンプルホルダーに温度センサーを取付けて サンプル直近の温度を計測する事も可能です。

温度･磁場 統合　I-V計測制御ソフトウェア MeasureLINK（Option）

　MeasureLINK ソフトウェアは、クライオスタットシステムの温度制御・モニタリング、Lake Shoreやサードパーティ(Keithleyなど)機器の計測制御シーケンス、計測チャート作成とデータロギング機能を備えています。プログラミングの必要はなく ドラッグ＆ドロップ操作により 温度スイープ、ガウスメータを用いた磁場スイープ、計測グラフ表示、プロセスビューでクライオスタット内部の温度をリアルタイムで確認できます。

　温度･磁場 統合　I-V 計測制御ソフトウエア ☞

ロックインアンプ内蔵 ソースメジャーユニット M81（Option）

　M81型は、クライオスタット内の極低温環境下における材料物性･デバイス研究のための、温度-電気測定(I-V抵抗, 微分抵抗測定) に最適な高感度測定器です。DC+AC出力も可能な精密電源と、微小レベルのDC測定 及び  Lock in Amp測定機能を有し、低抵抗から高抵抗まで幅広いレンジの測定を行えます。印加-測定を最大3系統まで同期測定でき、FETなど多pinデバイスの測定も可能です。超電導、熱電、有機、量子・スピントロニクスデバイスなどの評価に活用頂けます。
　例えば M81-SSM-6型 は、1台で最大3つのソースモジュールと 3つの測定モジュールをリモート接続できます。外付けモジュール構成により、ソースおよび計測アンプをクライオスタットの近くに配置できることで サンプルへの信号配線長が最小限に抑えられ、ノイズがより低減し測定感度が向上します。

1. サンプルホルダー　　　　詳細はこちら☞

計測用途に合わせて、クライオスタット内にサンプルを取付けるための サンプルホルダーを用意しています。サンプル直近の温度モニターのために、制御用温度センサーとは別に サンプルホルダーに温度センサーを取付けて温度を計測することも可能です。
サンプルホルダーの種類については サンプルホルダーオプション を参照ください。user自作治具を取付ける事も可能です。
（サンプルマウント： CCS-300型：φ0.63 inch）

• SH-RESISTIVITY-0.63-STD ：8pin 電気計測・抵抗測定
• SH-OPTICAL-0.63-STD ：光学測定（透過対応穴あき）
• SH-BLANK-0.63-STD ：ブランク
• その他 ：要相談

3. 光学窓材　　　　詳細はこちら☞

必要な波長に応じて光学窓材を選択できます。詳細については 光学窓材オプション を参照ください。
（標準：エポキシシール窓）

　・Fused silica、Sapphire、Zinc sulfide、Diamond、Polypropylene、
　　Crystalline quartz、Kapton、Mylar、　アルミブランクプレート(光学窓不要の場合, option)　など